从共振非弹性X射线散射确定关联电子系统中的电子-声子耦合强度
强关联电子
2012-12-03 v1 材料科学
摘要
我们表明，高分辨率的共振非弹性X射线散射（RIXS）提供了关于电子-声子（e-p）耦合强度的直接、元素特异且动量分辨的信息。我们的理论分析证明，通过确定微分声子散射截面，可以从RIXS谱中提取e-p耦合。另一种非常直接的提取耦合的方法是使用单声子和双声子损失比，该比值由e-p耦合强度和芯空穴寿命决定。这使得能够在绝对能量尺度上测量e-p耦合。
引用
@article{arxiv.1010.3565,
title = {Determining the Electron-Phonon Coupling Strength in Correlated Electron Systems from Resonant Inelastic X-ray Scattering},
author = {Luuk J. P. Ament and Michel van Veenendaal and Jeroen van den Brink},
journal= {arXiv preprint arXiv:1010.3565},
year = {2012}
}
备注
4 pages, 3 figures