利用非弹性 X 射线散射直接观测手性声子
材料科学
2021-08-17 v1
摘要
声子手性自提出以来便引起了广泛关注，因为它打破了声子是线性传播玻色子的传统认知。这一新的准粒子性质已在理论和实验上得到广泛研究。然而，由于缺乏可用的实验手段，目前仍无法对全布里渊区内的声子手性进行表征。本工作中，我们利用毫电子伏能量分辨率的非弹性 X 射线散射研究了碳化钨的声子色散与手性。原子尺度计算表明，由于反演对称性的破缺，K 和 K 点附近的面内纵声学声子和横声学声子呈圆偏振。我们观测到了这些圆偏振声子引起的反常非弹性 X 射线散射，并将其归因于它们的手性。我们的结果表明，非弹性 X 射线散射可用于表征材料中的声子手性，并提示有必要对声子散射函数进行修正。
引用
@article{arxiv.2108.06631,
title = {Direct Observation of Chiral Phonons by Inelastic X-ray Scattering},
author = {Qingan Cai and Olle Hellman and Bin Wei and Qiyang Sun and Ayman H. Said and Thomas Gog and Barry Winn and Chen Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:2108.06631},
year = {2021}
}