Belle II 实验的硅顶点探测器
仪器与探测器
2022-07-13 v1 高能物理 - 实验
摘要
自 2019 年春季在日本 KEK 的 SuperKEKB 对撞机开始取数以来，Belle II 硅顶点探测器（SVD）一直可靠且高效地运行，并提供高质量数据：高信噪比、大于 99% 的击中效率以及精确的空间分辨率。这些特性结合随时间变化的稳定性，带来了良好的径迹重建效率。目前主要由束流本底击中导致的占用率相当低（最内层约 0.5%），未对 SVD 数据重建造成问题。鉴于未来几年计划在更高亮度下运行，已制定并基于数据测试了旨在保持径迹性能的特定策略。触发的时间稳定性允许减少条带放大器波形的采样。良好的击中时间分辨率可被用来进一步增强对更高水平束流本底的鲁棒性。已测量到辐射损伤对条带噪声、传感器电流和耗尽电压的初步影响：它们对探测器性能无任何有害影响。此外，在因束流损失引起的突然且强烈的辐射爆发之后，未观测到 SVD 受损。
引用
@article{arxiv.2206.11648,
title = {The Silicon Vertex Detector of the Belle II Experiment},
author = {Laura Zani},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.11648},
year = {2022}
}