Belle II 硅顶点探测器的建造与质量保证
仪器与探测器
2019-01-29 v1
摘要
Belle II 实验位于日本筑波 KEK 的 SuperKEKB 对撞机相互作用点，预计将收集对应于 50~ab 积分亮度的数据。该数据集将通过精确测量与对极稀有衰变的搜寻，对超出标准模型的物理灵敏。其核心是一个六层顶点探测器，由两层像素探测器（PXD）和四层双面硅微条探测器（SVD）组成。该装置所提供的精确顶点重建对于时间依赖的 破坏测量至关重要。SVD 组装的关键方面是精确对齐，以及严格的电学与几何质量保证。我们给出 SVD 建造的概述，包括 SVD 组件模块的精密胶合与各种电气元件的引线键合。我们还讨论了电学与几何质量保证测试。
引用
@article{arxiv.1901.09549,
title = {Construction and quality assurance of the Belle II Silicon Vertex Detector},
author = {P. K. Resmi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1901.09549},
year = {2019}
}
备注
Presented at VERTEX 2018, On behalf of Belle II SVD Collaboration