硅像素电荷信息在粒子鉴别中的最优利用
仪器与探测器
2018-11-02 v2
摘要
利用硅探测器中的能量损失进行粒子鉴别是探究标准模型（SM）以及搜寻超出标准模型新粒子的有力技术。传统上，此类技术使用多层能量损失的截断均值，以减轻电荷涨落分布中的重尾效应。我们表明，利用多层电荷的最优方案显著优于截断均值。截断本身并未显著降低性能，且最优分类器可由截断均值与截断方差的线性组合很好地近似。
引用
@article{arxiv.1803.08974,
title = {The Optimal Use of Silicon Pixel Charge Information for Particle Identification},
author = {Harley Patton and Benjamin Nachman},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.08974},
year = {2018}
}
备注
12 pages, 6 figures, code can be found on GitHub under LBNLPixelProjects/OptimalParticleIdentification