硅年代测定

为了维护不断增长的遗留电子设备基础，政府和行业客户都必须求助于第三方代理商来获取原制造商短缺或停产的元器件。从第三方采购设备为不道德的灰色市场供应商插入假冒器件创造了机会：失效、仿冒或劣于原产品的器件。这以增加客户系统性能/可靠性下降为代价提高了供应商的利润。最难检测的一类假冒器件是回收假冒器件：被回收的正品器件被当作新品转售。此类器件难以检测，因为它们通常通过性能和参数测试，但因年龄相关损耗而过早失效。为应对部署前检测回收器件的挑战，我们开发了Silicon Dating：一种利用静态随机存取存储器（SRAM）上电状态检测回收集成电路的低开销分类器。Silicon Dating面向无已知新品记录或专用防回收硬件的器件。我们观察到，随着时间推移，设备上运行的软件通过模拟域变化将其独特数据模式印记到SRAM中；我们通过SRAM上电状态统计来度量该变化的水平和方向。与SRAM制造过程中由工艺偏差产生的高度对称上电状态相比，我们表明嵌入式软件数据通常高度不对称，且软件印记的上电状态不对称程度揭示了器件的使用情况。利用在多个微控制器上运行的嵌入式基准测试的实证结果，我们表明Silicon Dating在无需软件特定知识时以84.1%的准确率识别回收器件，而在融入软件知识后以92.0%的准确率识别——无需事先器件注册或修改。