自电离中的非厄米图景

我们报道了单共振自电离中异常点（EPs）的存在，并给出了它们在参数空间中位置的解析表达式，以 Fano 不对称参数为表征。此外，我们提出了一种可靠的实验确定 EPs 的方法，该方法仅基于其电离概率随系统参数变化的信息。我们详细研究了 EPs、非对称轮廓的极大值以及基态有效衰变率之间的联系。关于氦的双激发 $2s2p({}^1P)$ 态的定量数值例子证实了我们的公式与结果的有效性。除了揭示自电离的隐藏方面外，我们的处理与结果为探索具有 Fano 轮廓的多种材料中的 EPs 及其性质提供了基准，并带有广泛应用前景。