利用强引力透镜研究星系内部质量功率谱：超越线性近似
宇宙学与河外天体物理
2017-10-17 v1 星系天体物理
摘要
在过去十年中，利用强引力透镜成像中的势校正形式，探测单个大质量暗物质子晕已成为可能。在此，我们提出一种统计形式，将强引力透镜表面亮度异常与透镜星系中暗物质分布引起的透镜势涨落联系起来。我们将这些涨落视为除未受扰动的平滑透镜模型之外的一个高斯随机场。这与弱引力透镜形式非常相似，我们证明通过这种方式可以测量这些势扰动的功率谱。我们通过将该方法应用于不同几何形状的模拟模拟透镜，并对理论功率谱进行 MCMC 分析来检验该方法。该方法可以利用哈勃空间望远镜在单次轨道观测中以典型信噪比获得的单个透镜系统，在 1-10 kpc 尺度上测量早型星系的密度涨落，典型均方根水平为百分之一。
引用
@article{arxiv.1710.03075,
title = {The inner mass power spectrum of galaxies using strong gravitational lensing: beyond linear approximation},
author = {Saikat Chatterjee and Léon V. E. Koopmans},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.03075},
year = {2017}
}