半解析星系中小尺度结构的功率谱量化

在结构形成的冷暗物质 (CDM) 图像中，预言星系质量分布在小尺度上具有相当多的结构。强引力透镜已被证明是研究这种小尺度结构的有用工具。许多注意力集中在通过透镜建模探测单个暗物质子晕上，但最近的工作表明，子晕的完整总体可以通过功率谱分析来探测。在本文中，我们量化了模拟星系中小尺度结构的功率谱，目的是理解理论预言并为使用功率谱测量来检验暗物质模型奠定基础。我们使用由 Galacticus 半解析模型生成的模拟星系样本，首先确定 CDM 范式下的功率谱分布，然后确定温暗物质情景下的功率谱分布。我们发现，对星系强透镜尺度上 (k∼1 kpc^{-1}) 功率谱的斜率和振幅的测量可用于区分 CDM 与替代暗物质模型，特别是如果最质量的子晕能通过引力成像被直接探测到的话。