恢复植入子图的基本极限
统计理论
2025-03-21 v1 离散数学
信息论
组合数学
math.IT
概率论
统计理论
摘要
给定任意子图 和 ,植入子图模型定义如下。统计学家观察由随机副本 的并集 ,以及以 形式的随机噪声组成的图。其目标是从观察到的图中恢复植入的 。本文的关注点在于理解足够大的 时的最小均方误差(MMSE)。最近的一篇文献[MNSSZ23]描述了在 增加时, limiting MMSE 曲线从0到1之间发生尖锐相变的图,一种称为 all-or-nothing 现象的行为,除 上的轻微密度假设外。在本文中,我们给出任意图 的 limiting MMSE 曲线公式,除相同的轻微密度假设外。该曲线以 的两个子图之间的变分公式表示,灵感来自概率组合文献[KK07]中著名的子图期望阈值。此外,我们给出了该变分问题优化器的多项式时间描述。这使得在 足够大时,能够有效地近似计算任何稠密图 的 MMSE 曲线。该证明依赖于 的新颖图分解以及可能独立感兴趣的新型最小对偶定理。我们的结果推广到恢复任意单调布尔属性植入于随机噪声中的 minimax 率的设置,其中统计学家观察的是植入单调属性的最小元素 与随机 向量的并集。在该设置下,我们给出一个变分公式,灵感来自所谓的“分数”期望阈值[Tal10],再次描述了 large enough 时的 MMSE 曲线(这种情况下为倍数常数)。
引用
@article{arxiv.2503.15723,
title = {The Fundamental Limits of Recovering Planted Subgraphs},
author = {Daniel Lee and Francisco Pernice and Amit Rajaraman and Ilias Zadik},
journal= {arXiv preprint arXiv:2503.15723},
year = {2025}
}