温度过冲作为电阻开关器件在电形成过程中发生物理变化的起因
应用物理
2020-07-15 v1 材料科学
摘要
基于过渡金属氧化物的电阻开关器件需要形成导电细丝以使器件能够切换。此类细丝被提出通过施加电场导致氧化物还原而形成，但本报告试图反驳该解释。电形成过程中频繁报道的物理变化包括电极剥落、功能氧化物结晶、电极与氧化物材料互混，以及大量氧丢失（推测向环境）。此处我们表明，这些效应大多非形成与切换过程所固有，而是源于实验假象：形成电路中的寄生电容放电。典型 BNC 电缆的放电可将细丝温度升至 2,000 至 5,000 K，导致广泛物理变化。上述放电及相关效应可通过使用片上负载元件消除，且不影响切换能力。
引用
@article{arxiv.2004.06571,
title = {Temperature overshoot as the cause of physical changes in resistive switching devices during electro-formation},
author = {Jingjia Meng and Bingyuan Zhao and Jonathan M. Goodwill and James A. Bain and Marek Skowronski},
journal= {arXiv preprint arXiv:2004.06571},
year = {2020}
}
备注
20 pages, 5 figures