电子马赫-曾德尔干涉仪中干涉可见度的温度依赖性
介观与纳米尺度物理
2015-05-18 v2
摘要
我们在电子马赫-曾德尔干涉仪中进行了电导和散粒噪声测量。研究了干涉可见度随电子温度变化的函数关系，该电子温度由干涉仪的热噪声推导得出。非平衡噪声随调制栅极电压的变化显示出 h/e 和 h/2e 振荡。
关键词
引用
@article{arxiv.1004.1945,
title = {Temperature dependence of the visibility in an electronic Mach-Zehnder interferometer},
author = {Masayuki Hashisaka and Andreas Helzel and Shuji Nakamura and Leonid Litvin and Yoshiaki Yamauchi and Kensuke Kobayashi and Teruo Ono and Hans-Peter Tranitz and Werner Wegscheider and Christoph Strunk},
journal= {arXiv preprint arXiv:1004.1945},
year = {2015}
}
备注
19 pages, 4 figures