有限偏压下电子 Mach-Zehnder 干涉仪的可见度
介观与纳米尺度物理
2008-03-17 v3
摘要
我们提出了一种原创的统计方法，用于在存在低频涨落的情况下测量电子 Mach-Zehnder 干涉仪中的干涉可见度。该可见度呈现出单侧瓣结构，研究表明这是由方差随偏压二次变化的高斯相位平均所致。为了加强我们的方法并验证该统计方法，我们也在稳定样品上进行了相同的实验。其展现出与涨落样品相同的可见度行为，表明有限偏压相位平均具有内禀特性。在两个样品中，入射电流的稀释均降低了高斯分布的方差。
引用
@article{arxiv.0704.0746,
title = {Finite bias visibility of the electronic Mach-Zehnder interferometer},
author = {Preden Roulleau and F. Portier and D. C. Glattli and P. Roche and A. Cavanna and G. Gaini and U. Gennser and D. Mailly},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.0746},
year = {2008}
}
备注
4 pages, 5 figures