钱德拉X射线CCD中电荷转移效率的温度依赖性
天体物理学
2009-11-11 v1
摘要
发射后不久，钱德拉X射线天文台上的焦平面仪器之一——先进CCD成像光谱仪（ACIS）在穿越地球辐射带期间因暴露于软质子而遭受辐射损伤。损伤的主要效应是使八个前照式CCD的电荷转移效率（CTI）增加了两个数量级以上。ACIS仪器团队正在继续研究损伤特性，重点开发减轻CTI和光谱分辨率退化的技术。我们展示了ACIS CTI在-120至-60摄氏度范围内的初始温度依赖性，以及经过六年多持续缓慢辐射损伤后的当前温度依赖性。我们利用温度依赖性形状的变化来推测损伤粒子的性质。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0606178,
title = {Temperature dependence of charge transfer inefficiency in Chandra X-ray CCDs},
author = {C. E. Grant and M. W. Bautz and S. E. Kissel and B. LaMarr and G. Y. Prigozhin},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0606178},
year = {2009}
}
备注
9 pages, 8 figures, to appear in Proc. SPIE vol 6276 "High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy II"