利用钱德拉X射线天文台上的ACIS作为粒子辐射监测器
天体物理仪器与方法
2015-05-19 v1
摘要
高级CCD成像光谱仪（ACIS）是钱德拉X射线天文台上两个焦平面仪器之一。在初始辐射带穿越过程中，暴露的ACIS因X射线望远镜镜面散射的捕获软质子而遭受了显著的辐射损伤。该损伤的主要效应是增加了ACIS 8个前照式CCD的电荷转移效率（CTI）下降。随后，钱德拉团队实施了在高辐射事件期间将ACIS移出望远镜焦点的程序：辐射带穿越期间的计划性保护；由星载辐射监测器触发的自主保护；以及基于空间天气状况评估的人工干预。然而，随着钱德拉多层隔热层的老化，温度升高降低了星载辐射监测器用于自主保护的有效性。在此，我们研究利用ACIS CCD本身作为辐射监测器。我们探索了10年的数据库，以评估CCD对粒子辐射的响应，并将该响应与其他辐射数据和环境模型进行比较。
引用
@article{arxiv.1007.4185,
title = {Using ACIS on the Chandra X-ray Observatory as a particle radiation monitor},
author = {C. E. Grant and B. LaMarr and M. W. Bautz and S. L. O'Dell},
journal= {arXiv preprint arXiv:1007.4185},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 5 figures. To appear in Proc. SPIE vol. 7732