面向未来 X 射线任务的高精度粒子背景估计：Chandra ACIS 与 AMS 间的相关变率
天体物理仪器与方法
2022-08-03 v1 高能天体物理现象
摘要
许多未来 X 射线天文台的科学目标是通过对暗弱弥漫源的深曝光来绘制宇宙网。此类观测要求低背景并尽可能掌握剩余未被剔除的背景。在 1–2 keV 以上，背景的主要贡献来自银河系宇宙线质子。其通量与能谱受太阳周期调制，也受较短时标上太阳活动的影响。理解这种变率可能对降低 ESA 的 Athena X 射线天文台及其他大集光面积任务的背景不确定性至关重要。我们考察了 Chandra X 射线天文台上 ACIS 所测粒子背景的变率，并将该变率与阿尔法磁谱仪（AMS，国际空间站上的精密粒子探测器）所测变率进行比较。我们表明 AMS 测得的宇宙线质子变率与 ACIS 背景吻合良好，并可用于估计造成该背景的质子能量。我们讨论了这如何为未来任务提供参考。
引用
@article{arxiv.2208.01130,
title = {Towards precision particle background estimation for future X-ray missions: correlated variability between Chandra ACIS and AMS},
author = {Catherine E. Grant and Eric D. Miller and Marshall W. Bautz and Richard Foster and Ralph P. Kraft and Steven Allen and David N. Burrows},
journal= {arXiv preprint arXiv:2208.01130},
year = {2022}
}
备注
11 pages, 8 figures, submitted to Proceedings of SPIE Astronomical Telescopes + Instrumentation 2022