温度退火循环对低温质子辐照 CCD 的影响
仪器与探测器
2022-02-02 v1
摘要
在整个典型的地球轨道期间，卫星不断受到辐射轰击，其中被捕获的质子和太阳质子尤其令人担忧，因为它们会在整个任务期间逐渐损坏焦平面器件并降低其性能。为了解损坏对 CCD 的影响及其随热历史的变化，使用 CCD280 进行了一次质子辐射活动。该 CCD 在 153 K 下辐照，然后以 5 K 的增量逐渐加热至 188 K，并在每次退火步骤后在 153 K 下拍摄 Fe55 X 射线、暗电流和陷阱泵浦图像。结果表明，尽管陷阱分布在整个退火过程中发生了变化，但它对并行电荷转移效率几乎没有影响。这被认为是因为大多数陷阱不受影响，而许多确实发生退火的陷阱只是从不同陷阱物种之间的连续体移动到附近的双空位陷阱“峰”中，其发射时间常数足够相似，仍然会影响 CTI。就任务中使用 CCD280 或类似器件而言，CTI 不受高达 188 K 热退火的影响意味着，随着辐射损伤的积累，所需的任何 CTI 校正都不必考虑焦平面的热历史。然而，在高于 188 K 的温度下可能会发生显著的退火，当任务在此范围内运行时应小心，以收集准确的飞行前数据。
引用
@article{arxiv.2110.09081,
title = {Effects of Temperature Anneal Cycling on a Cryogenically Proton Irradiated CCD},
author = {S. Parsons and T. Buggey and A. Holland and S. Sembay and G. Randall and O. Hetherington and D. Yeoman and D. Hall and P. Verhoeve and M. Soman},
journal= {arXiv preprint arXiv:2110.09081},
year = {2022}
}
备注
17 pages, 12 Figures