Sn 与 Sn-Cu 中 $\alpha \rightleftharpoons \beta$ 结构相变的同步辐射 X 射线衍射研究

锡的金属性（$\beta$）与半导体性（$\alpha$）同素异形体之间的转变仍未被很好理解。文献中所述的相变温度 286.2 K 似乎与近期量热测量不一致。本文利用在 Indus-2 设施上进行的温度分辨同步辐射 X 射线衍射测量，在 Sn 和 Sn-Cu（按重量掺入 0.5% Cu 的合金）中探究了这一引人关注的问题。此外，还在扫描电子显微镜中通过原位加热/冷却实验记录了 $\alpha \rightleftharpoons \beta$ 锡转变。基于这些测量，提出了一种减少在潜在易受影响系统中 $\alpha$-Sn 形成的方案。这将有助于诸如 TIN.TIN（The INdia-based TIN detector）等实验，该实验拟采用约 100–1000 kg 超导锡基探测器来搜寻同位素 $^{124}$Sn 中的无中微子双贝塔衰变。