采用模拟 VLSI 读出的 100 微米厚硅条探测器的研究
仪器与探测器
2007-05-23 v1 高能物理 - 实验
摘要
我们利用 300 MeV 质子束和 90Sr β射线源评估了 100 微米厚硅条探测器（SSD）的性能。SSD 的信号已使用 VLSI 芯片读出。将共模噪声、信号分离效率和能量分辨率与厚度为 300 微米和 500 微米的 SSD 进行比较。通过对共模噪声中的非恒定分量用线性函数拟合，最小电离粒子（MIP）的能量分辨率得到改善。
引用
@article{arxiv.physics/9812034,
title = {Studies of 100 um-thick silicon strip detector with analog VLSI readout},
author = {T. Hotta and M. Fujiwara and T. Kinashi and Y. Kuno and M. Kuss and T. Matsumura and T. Nakano and S. Sekikawa and H. Tajima},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/9812034},
year = {2007}
}
备注
8 pages, 6 figures, Submitted to Nucl. Instr. Meth. A