纳米孔隙率的结构飞越表征
计算物理
2009-11-10 v1
摘要
最近，Ferreira da Silva 等人 [3] 对 p-Si 的扫描力显微镜 (SFM) 图像的标准样本集 (CSS) 进行了梯度模式分析。他们将所谓的梯度模式分析应用于三个典型的 p-Si 样本的图像，这些样本以不同的吸收能级和纵横比区分。考虑到空间不对称波动的测量，他们不仅根据粗糙度，而且根据结构复杂性（例如，壁和细结构如狭缝）来解释整体孔隙率。该分析已被改编以在 OpenGL 飞越环境（StrFB 代码）中运行，其应用在飞越实时期间提供结构的数值表征。使用此分析，我们比较了与不同材料（如 p-Si 和“多孔类金刚石”碳）相关的活性孔隙的不对称碎裂水平。总之，我们已经表明，飞越环境中的梯度模式分析技术是一种可靠且灵敏的方法，可以定性和定量地研究活性纳米结构的复杂形态。
引用
@article{arxiv.physics/0408119,
title = {Structural Flyby Characterization of Nanoporosity},
author = {R. R. Rosa and A. Ferreira da Silva and R. C. Brito and L. S. Roman and M. P. M. A. Baroni and F. M. Ramos and R. Ahuja and C. Persson},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0408119},
year = {2009}
}