掺杂 Hubbard 阶梯中的条纹形成

我们使用密度矩阵重整化群 (DMRG) 方法研究了从半填充掺杂开 $4$ 个空穴的 $7 \times 6$ Hubbard 阶梯中的条纹形成。并行化代码使我们能够保留足够多的密度矩阵本征态（最多至 $m=8000$），并研究足够大的系统（最多至 $7 = 21$ 个阶梯横档），以将条纹幅度外推至 DMRG 截断误差消失和无限长阶梯的极限。我们的工作给出了强有力的证据，表明在强耦合 ($U=12t$) 下基态中存在条纹，但在较弱耦合 ($U=3t$) 下在空穴密度中发现的结构是 DMRG 方法的伪影。