短18脚 t-J 圆柱上的大型孤立条纹

自旋-电荷条纹是高温超导体中除超导性外最显著的低温有序形式之一。这一相对于数值研究来说具有挑战性，由于有限大小效应。通过研究形成持续的孤立条纹，我们提供了一种与典型有限掺杂相图相补充的视角。我们使用密度矩阵重正化群算法提取18脚圆柱条纹几何的基态，使直径显著大于以前的工作。这一方法允许我们绘制电子掺杂与空穴掺杂两侧可能条纹掺杂率的范围。我们发现与已有结果良好一致，这表明文献中观察到的掺杂率范围由单个条纹的物理学主导。通过对条纹形成进行微观观察，我们揭示了两个独立的体制——一个由简化的挤压空间模型捕获的高掺杂体系，另一个由掺杂器对个体结构特征主导的低掺杂体系。由此，我们追溯条纹相现象的根源到其微观成分，突出了两种体系在量子模拟实验中观察的不同挑战。