存储环测量 C IV 复合率系数
天体物理学
2009-11-06 v1 原子物理
摘要
在 Max-Planck-Institut fuer Kernphysik 位于 Heidelberg, Germany 的重离子存储环 TSR 中，以高能分辨率测量了与 C IV 锂类离子 2s-2p Δn=0 激发相关的低能 C IV 电子复合（DR）速率系数。详细讨论了实验程序以及特别是高 Rydberg 态的实验检测概率，这些态是通过该离子复合产生的。从实验数据推导出 Maxwellian 等离子体速率系数，具有 15% 的系统不确定性，并参数化以便在等离子体建模代码中便于使用。我们的实验结果尤其对 10000 K 以下的等离子体速率系数进行了基准测试，在此范围内 DR 通过 C III (1s2 2p 4l) 中间态主要发生，而现有理论在此范围内相差数个数量级。此外，我们发现 C IV 的总电子复合和辐射复合可表示为我们 DR 速率系数与 Pequignot 等人（1991, Astron. Astrophys., 251, 680）的 RR 速率系数的无关联求和。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0101552,
title = {Storage ring measurement of the C IV recombination rate coefficient},
author = {S. Schippers and A. Mueller and G. Gwinner and J. Linkemann and A. A. Saghiri and A. Wolf},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0101552},
year = {2009}
}
备注
9 figures, 2 tables