W73+到W56+的部分与总双电子复合速率系数
原子物理
2016-04-25 v1 等离子体物理
摘要
双电子复合(DR)是一种关键的原子过程，影响钨的光谱诊断建模，其大多数电离级将在ITER聚变反应堆的某个地方找到：在边缘、偏滤器或核心等离子体中。准确的DR数据很少，而完整的DR覆盖是粗糙的（例如平均原子或Burgess通用公式），正如目前钨电离平衡中存在的大不确定性所说明的。为此，我们提出了一系列部分末态分辨和总的DR速率系数，针对W73+到W56+钨离子。这是“钨计划”内更广泛努力的一部分，旨在计算钨同核序列的准确双电子复合速率系数，用于有限密度托卡马克等离子体的碰撞辐射建模。复合速率系数是使用autostructure计算的，采用kappa平均相对论波函数在能级分辨率（中间耦合）和组态分辨率（组态平均）下。结果可根据adf09和adf48标准格式从OPEN-ADAS获取。与之前W63+和W56+总DR速率系数的计算比较，在峰值温度下分别一致到20%和10%以内。还看到对麦克斯韦分布的Juttner修正对最高电荷态钨的电离平衡有显著影响，改变了几个离子的峰值丰度温度和电离分数。
引用
@article{arxiv.1603.05920,
title = {Partial and Total Dielectronic Recombination rate coefficients for W73+ to W56+},
author = {S. P. Preval and N. R. Badnell and M. G. O'Mullane},
journal= {arXiv preprint arXiv:1603.05920},
year = {2016}
}
备注
36 pages, 23 figures. Accepted for publication in Physical Review A