通过谷涡旋附近的 g 因子测量对 Si/SiGe 量子点中谷耦合的统计表征

Si/SiGe 异质结构中低能谷激发的存在常常导致自旋量子比特失效。因此，开发用于表征谷耦合的稳健协议非常重要。在这里，我们表明，对谷能量分布进行实际规模的采样往往会严重高估平均谷耦合。但我们发现，除了谷分裂之外，了解谷相位可以显著改善我们的估计。受此理解的启发，我们提出了一种新方法，利用简单的 g 因子测量来探测整个量子阱中的谷相位景观。该过程中的一个重要校准步骤是在包围谷涡旋的环路中测量 g，其中谷相位围绕谷分裂的零点缠绕 $\pm 2\pi$。该提议为探测自旋量子比特建立了一个重要的新工具，并且可以在当前的实验中实现。