准二维 Janus CdSe 纳米片的自发应变及其显微机制

自发应变和自发折叠薄纳米片的现象已为人所知，但其显微机制仍在争论。本文采用第一性原理计算方法研究 Janus CdSe 纳米片中产生的机械应力及其导致的自发应变。计算结果揭示了该现象的三种显微机制。两种体积机制与由配体电负性差异在电场中产生的逆 piezoelectric 效应以及由纳米片表面电双层势跃变差异导致的去极化场结果有关。这两种机制在观察到的效应中占比 5-25%。第三种机制与纳米片通过桥接键导致的表面应变有关，其影响占主导。结果表明，后者机制导致薄 CdSe 纳米片的自发折叠，并且， Depending on 表面应力和纳米片的横向取向，可以导致其实验观察到的结构，如卷轴、螺旋和扭曲纱带的形成。