用瞬态电双折射探测CdSe纳米片中的永久偶极矩
应用物理
2019-12-09 v1 材料科学
摘要
闪锌矿CdSe半导体纳米片（NPL）因其微小且原子级可控的厚度而展现出卓越的量子限域性质。例如，它们显示极尖锐的吸收峰，使其成为光电子应用中非常有趣的对象。然而，这些纳米颗粒基态电偶极的存在尚未被研究。因此我们采用瞬态电双折射（TEB）探测平行六面体形状的5单原子层厚闪锌矿CdSe NPL的电偶极。我们研究涂有支化配体的孤立NPL稀分散液，并测量由直流与交流场脉冲诱导的双折射随时间的变化。电光行为证明存在沿片长方向的大偶极矩（> 245 D）。随后我们通过添加油酸诱导NPL缓慢面对面堆叠。在这些堆叠中，相邻NPL的面内偶极分量相互抵消，而其法向分量相加。此外有趣的是，NPL堆叠的超额极化率张量产生与电偶极相反的电光贡献。通过监测缓慢生长堆叠的TEB信号长达一年，我们提取其平均长度随时间的演化，并表明其电光响应可由平行于法向的80 D偶极分量解释。尽管体ZB CdSe具有3m空间群，这些NPL仍带有重要基态偶极，其单位体积大小是纤锌矿CdSe纳米棒的两倍。我们讨论此电偶极的可能起源、其对纳米颗粒光学性质的影响，以及它如何解释其严重损害胶体稳定性的强堆叠倾向。
引用
@article{arxiv.1912.02679,
title = {Probing Permanent Dipoles in CdSe Nanoplatelets with Transient Electric Birefringence},
author = {Ivan Dozov and Claire Goldmann and Patrick Davidson and Benjamin Abécassis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1912.02679},
year = {2019}
}