利用共振软X射线衍射对 La1.8Sr0.2NiO4 中条纹序的光谱学研究
强关联电子
2009-11-11 v1
摘要
当使用 Ni L2,3 吸收边附近的 X 射线能量时，我们观察到 La1.8Sr0.2NiO4 中电荷序和自旋序超结构衍射强度的强共振增强。这些衍射强度显著的 photon-energy 和偏振依赖性使得能够对有序自旋和电荷载流子的局部对称性进行关键确定。我们发现，不仅反铁磁序，而且电荷序超结构也位于 NiO2 层内；空穴主要位于围绕 Ni2+ 位点的面内氧上，其自旋反平行耦合，与铜氧化物中的 Zhang-Rice 单态非常类似。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0502357,
title = {Spectroscopy of stripe order in La1.8Sr0.2NiO4 using resonant soft x-ray diffraction},
author = {C. Schuessler-Langeheine and J. Schlappa and A. Tanaka and Z. Hu and C. F. Chang and E. Schierle and M. Benomar and H. Ott and E. Weschke and G. Kaindl and O. Friedt and G. A. Sawatzky and H. -J. Lin and C. T. Chen and M. Braden and L. H. Tjeng},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0502357},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 3 figures