条纹序形成过程及其空穴浓度依赖性
强关联电子
2009-11-07 v2 超导电性
摘要
通过中子衍射实验研究了 La{2-x}Sr{x}NiO{4} 中 x 接近 1/3 时条纹序的形成过程。当条纹序在高温形成时，条纹序的失调参数 \epsilon 趋向于 1/3 附近的值，适用于 x 位于 1/3 两侧的样品。然而，随着温度降低，\epsilon 趋近于由 \epsilon = n_h 决定的线性关系值，其中 n_h 为空穴浓度。这种 \epsilon 的变化通过改变条纹和反亚武德域中载流子密度，强烈影响条纹序的特性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0105457,
title = {Ordering Process and Its Hole Concentration Dependence of the Stripe Order in La{2-x}Sr{x}NiO{4}},
author = {R. Kajimoto and T. Kakeshita and H. Yoshizawa and T. Tanabe and T. Katsufuji and Y. Tokura},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0105457},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 3 figures, REVTeX, to be published in Phys. Rev. B