利用共振软X射线衍射在La1.8Sr0.2NiO4中观察到的静态和涨落条纹序
强关联电子
2009-03-06 v1
摘要
我们利用中子衍射、Ni L2,3边的共振软X射线衍射（RSXD）以及Ni K阈值的共振X射线衍射（RXD）研究了La1.8Sr0.2NiO4的条纹相。为了正确评估与自旋和电荷有序超结构相关的衍射强度，必须考虑不同技术在q空间分辨率上的差异。我们发现，在RSXD实验中，自旋和电荷有序峰表现出相同的温度依赖性。相比之下，在中子实验中，自旋和电荷信号遵循截然不同的温度行为。我们推断，涨落磁序对磁性RSXD信号有显著贡献，并建议这一结果可能为通过比较RSXD和中子衍射数据来探索其他系统中的涨落序开辟一条有趣的实验途径。
引用
@article{arxiv.0903.0994,
title = {Static and fluctuating stripe order observed by resonant soft x-ray diffraction in La1.8Sr0.2NiO4},
author = {J. Schlappa and C. F. Chang and E. Schierle and A. Tanaka and R. Feyerherm and Z. Hu and H. Ott and O. Friedt and E. Dudzik and H. -H. Hung and M. Benomar and M. Braden and L. H. Tjeng and C. Schuessler-Langeheine},
journal= {arXiv preprint arXiv:0903.0994},
year = {2009}
}