空穴掺杂La2NiO4中的电荷局域化与声子谱
强关联电子
2009-10-31 v1 超导电性
摘要
对La2NiO4中的面内氧振动进行了理论和实验研究,通过非弹性中子散射探测了若干空穴掺杂浓度。利用二维Peierls-Hubbard模型中的非均匀Hartree-Fock加RPA数值方法,发现掺杂诱导了局域电荷的条纹序,且强电子-晶格耦合导致面内氧模式分裂为两个子带。该结果与La2-xSrxNiO4中非弹性中子散射观测到的声子带分裂一致。强调了La2NiO4中强电子-晶格耦合的预测、氧中心电荷序与镍中心电荷序的邻近性,以及带电条纹序与掺杂后面内声子带分裂之间的关系。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0002097,
title = {Charge localization and phonon spectra in hole doped La2NiO4},
author = {R. J. McQueeney and A. R. Bishop and Ya-Sha Yi and Z. G. Yu},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0002097},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 3 figures, in RevTeX