La2-xSrxNiO4 中动态电荷条纹的直接观测
强关联电子
2015-06-17 v3 超导电性
摘要
绝缘体 - 金属相变仍然是一个具有挑战性的课题，特别是在电子关联很强的情况下。在 La2-xSrxNiO4 和 La2-xBaxCuO4 等层状化合物中，掺杂的电荷载流子可以分离成周期性排列的电荷条纹，将窄的反铁磁有序区域隔开。尽管已有动态涨落条纹的理论提议，但一直缺乏电荷条纹涨落的直接光谱证据。在此，我们报告利用非弹性中子散射在 La2-xSrxNiO4 中探测到由电荷条纹关联驱动的关键晶格涨落。这种散射在大动量转移处被探测到，此处磁形状因子抑制了自旋涨落信号。与动态电荷条纹相关的晶格涨落在 q 空间较窄而在能量上较宽。它们在接近电荷条纹熔化温度时最强。我们的结果为动态条纹的定量理论以及直接探测其他强关联系统（包括高温超导体如 La2-xSrxCuO4）中的动态电荷条纹开辟了道路。
引用
@article{arxiv.1309.1798,
title = {Direct observation of dynamic charge stripes in La2-xSrxNiO4},
author = {S. Anissimova and D. Parshall and G. D. Gu and K. Marty and M. D. Lumsden and Songxue Chi and J. A. Fernandez-Baca and D. L. Abernathy and D. Lamago and J. M. Tranquada and D. Reznik},
journal= {arXiv preprint arXiv:1309.1798},
year = {2015}
}
备注
Nature Communications, in press, 9 pages 10 figures, completely new version