利用共振非弹性 X 射线散射研究 La2CuO4 中的动态自旋磁化率
强关联电子
2021-06-30 v1 超导电性
摘要
共振非弹性 X 射线散射（RIXS）是研究固体中基本激发的有力探针，现已被广泛用于研究磁激发。然而，其复杂的截面意味着 RIXS 比非弹性中子散射（INS）更难解释。在此我们报道了 La2CuO4（一种高温超导体体系的反铁磁母体）磁激发的高分辨率 RIXS 测量。在高能区（~2 eV），RIXS 谱显示出角度依赖的 dd 轨道激发，发现其与单点多重态计算十分吻合。在较低能区（<0.3 eV），我们表明波矢依赖的 RIXS 强度正比于单离子自旋翻转截面与自旋波激发的动态磁化率之乘积。当除掉自旋翻转截面后，RIXS 磁子强度与 INS 数据表现出显著的相似性。我们的结果表明 RIXS 是铜酸盐中动态自旋磁化率的定量探针，因此应被用于其他关联电子材料的定量研究。
引用
@article{arxiv.2009.12925,
title = {Dynamical spin susceptibility in La2CuO4 studied by resonant inelastic x-ray scattering},
author = {H. C. Robarts and M. Garcia-Fernandez and J. Li and A. Nag and A. C. Walters and N. E. Headings and S. M. Hayden and Ke-Jin Zhou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.12925},
year = {2021}
}
备注
12 pages