La(1.475)Nd(0.4)Sr(0.125)CuO(4)中的声子和空穴局域化
超导电性
2019-08-17 v1
摘要
使用非弹性中子散射测量了La(1.475)Nd(0.4)Sr(0.125)CuO(4)和La(1.9)Sr(0.1)CuO(4)的声子态密度。已知在La(1.9)Sr(0.1)CuO(4)中由于空穴掺杂而出现的~70 meV声子带源于强电子-晶格耦合。在Tc也被抑制的Nd掺杂化合物中，该声子带被强烈抑制，这建立了面内氧光学声子与超导电性之间的联系。这种抑制归因于空穴局域化，这种局域化在x≈1/8附近的某些铜氧化物中接近条纹有序条件时变得很强，并与超导电性竞争。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9907211,
title = {Phonons and hole localization in La(1.475)Nd(0.4)Sr(0.125)CuO(4)},
author = {R. J. McQueeney and J. L. Sarrao and J. S. Gardner and M. F. Hundley and R. Osborn},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9907211},
year = {2019}
}
备注
RevTeX,5 pages,3 embedded EPS figures