仿射满维析因设计的一些刻画
统计方法学
2009-07-22 v1 统计理论
统计理论
摘要
定义了一类新的二水平非正规部分析因设计。我们将此类设计称为 {\it 仿射满维析因设计},意指此类设计中的设计点不包含在 上向量空间的任何仿射超平面中。本文还阐明了此类设计的指示函数的性质。此类中的部分析因设计具有一个理想性质,即主效应模型的参数是同时可识别的。我们从 -最优性的角度研究了此类设计的性质。特别地,对于饱和设计,当运行次数 (mod 8) 时,-最优设计选自此类。
引用
@article{arxiv.0812.0196,
title = {Some characterizations of affinely full-dimensional factorial designs},
author = {Satoshi Aoki and Akimichi Takemura},
journal= {arXiv preprint arXiv:0812.0196},
year = {2009}
}
备注
15 pages