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仿射满维析因设计的一些刻画

统计方法学 2009-07-22 v1 统计理论 统计理论

摘要

定义了一类新的二水平非正规部分析因设计。我们将此类设计称为 {\it 仿射满维析因设计},意指此类设计中的设计点不包含在 F2\mathbb{F}_2 上向量空间的任何仿射超平面中。本文还阐明了此类设计的指示函数的性质。此类中的部分析因设计具有一个理想性质,即主效应模型的参数是同时可识别的。我们从 DD-最优性的角度研究了此类设计的性质。特别地,对于饱和设计,当运行次数 r5,6,7r \equiv 5,6,7 (mod 8) 时,DD-最优设计选自此类。

关键词

引用

@article{arxiv.0812.0196,
  title  = {Some characterizations of affinely full-dimensional factorial designs},
  author = {Satoshi Aoki and Akimichi Takemura},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0812.0196},
  year   = {2009}
}

备注

15 pages