半导体纳米晶格常数的尺寸依赖性
材料科学
2008-02-12 v1
摘要
我们从理论上研究了 Si、GaAs 和 CdSe 纳米晶平衡晶格常数的尺寸依赖性。虽然未钝化的 Si 纳米晶相对于体材料晶格常数的偏差高达 1-2%，但一旦表面经过钝化，该偏差降至约 0.3%-0.4%。尽管平均平衡键长呈现体材料特征，但我们发现最近邻键长表现出异常的应变分布：核心区域键长与体材料相似，而表面处键长较短（约 1%）。
引用
@article{arxiv.0802.1373,
title = {Size dependence of lattice constants of semiconductor nanocrystals},
author = {Roby Cherian and Priya Mahadevan},
journal= {arXiv preprint arXiv:0802.1373},
year = {2008}
}
备注
Published in Applied physics letters