利用四孔光阑在3束取向下进行单次扫描STEM-EMCD
材料科学
2022-11-17 v1
摘要
获取多角度分辨的电子能量损失谱(EELS)是与电子磁圆二色性(EMCD)实验相关的若干关键挑战之一。若通过在样品特定区域扫描纳米至原子尺寸的电子探针来进行实验,则从此类数据中提取的局域磁信息的精度高度依赖于多次扫描间空间配准的准确性。对于3束取向下的EMCD实验,这意味着必须在所有实验条件相同的情况下对同一试样区域扫描四次。这是一项非平凡的任务,因为由于束流损伤、污染和空间漂移,不同扫描之间晶体存在形貌与化学改性以及非系统性局域取向变化的高风险。在本工作中,我们采用定制四孔光阑在单次电子束扫描中获取EMCD分析所需的四幅EELS谱,从而消除了上述复杂性。我们展示了对应于亚纳米探针尺寸的束流会聚角下的定量EMCD结果,并比较了不同探测器几何下的EMCD结果。
引用
@article{arxiv.2211.09087,
title = {Single scan STEM-EMCD in 3-beam orientation using a quadruple aperture},
author = {Hasan Ali and Sharath Kumar Manjeshwar Sathyanath and Cheuk-Wai Tai and Jan Rusz and Toni Uusimaki and Björgvin Hjörvarsson and Thomas Thersleff and Klaus Leifer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2211.09087},
year = {2022}
}
备注
10 pages, 7 figures