透射电子显微镜中 EMCD 信号与晶体取向的同时映射

当在透射电子显微镜（TEM）中使用电子磁圆二色性（EMCD）技术分析磁性时，关键参数之一是样品取向，且这与所选的采集几何无关。由于微小的取向变化会对 EMCD 测量产生强烈影响，将 EMCD 信号作为样品取向的函数进行测量在实验上并非易事。经典的 EMCD 实验装置需要将晶体倾转到双束取向，并在两个共轭散射角处采集两份电子能量损失谱。由于不同的实验限制，从完美双束取向的微小偏离对所测 EMCD 信号的影响尚未被探究。为了在采集 EMCD 信号时保持精确的样品位置与取向，我们开发了一种同时映射定量 EMCD 信号与晶体局域取向的方法。我们通过实验与模拟分析了所测磁信号如何随晶体从精确双束取向的倾斜变化而演化。基于此分析，我们建立了晶体取向与 EMCD 信号之间的准确关系。我们的结果表明，晶体从双束取向的微小倾斜会显著改变 EMCD 信号的强度与分布。通过优化晶体取向，我们获得了定量的 EMCD 测量。