利用图案化光阑在晶带轴上实现单遍 STEM-EMCD：实验与数据处理方法的进展
材料科学
2022-03-22 v1
摘要
利用（扫描）透射电子显微镜（(S)TEM）中的电子磁圆二色性（EMCD）技术，在铁磁材料中以原子柱分辨率测量磁矩在理论上是可行的。然而，实验与数据处理上的障碍目前阻碍了这一目标的实现。在实验上，样品必须倾转到晶带轴取向，从而产生复杂的磁散射强度分布，并且同一样品区域必须被多次扫描，每次扫描均需亚原子级的空间配准。此外，EMCD 信号的微弱特性要求先进的数据处理技术以可靠地检测并量化结果。在本稿件中，我们详述了利用图案化光阑实现单遍晶带轴 EMCD 在实验与数据处理方面的进展。首先，我们为该项及其他 EMCD 实验提供了一套全面的数据采集与分析策略，该策略应可扩展至原子分辨率实验。其次，我们证明了在低空间分辨率下，可提取出有希望的 EMCD 候选信号，且这些信号对晶体学取向与动量转移均敏感。
引用
@article{arxiv.1908.09132,
title = {Single-pass STEM-EMCD on a zone axis using a patterned aperture: progress in experimental and data treatment methods},
author = {Thomas Thersleff and Linus Schönström and Cheuk-Wai Tai and Roman Adam and Daniel E. Bürgler and Claus M. Schneider and Shunsuke Muto and Ján Rusz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1908.09132},
year = {2022}
}
备注
17 pages, 9 figures. Data available at DOI: 10.5281/zenodo.3361582 Code available at DOI: 10.5281/zenodo.3374648