电子束的散粒噪声极限纳米机械检测与辐射压力反作用
介观与纳米尺度物理
2019-03-06 v1
摘要
检测纳米机械运动已成为科学技术领域的一项重要挑战。近来，与聚焦电子束的机电耦合已成为一种适用于超小尺度系统的极具前景的方法。然而，与这种复杂相互作用相关的基本测量过程仍有待探索。在此，我们报告了对微米长半导体纳米线的高灵敏度布朗运动检测。测量不精确性被发现是由机电相互作用中产生的二次电子的散粒噪声决定的。通过仔细分析纳米机电动力学，我们证明了径向反作用过程的存在，并将其确定为源于电子束与纳米机械器件之间的动量交换，这也被称为辐射压力。
引用
@article{arxiv.1803.09312,
title = {Shot noise limited nanomechanical detection and radiation pressure backaction from an electron beam},
author = {Sébastien Pairis and Fabrice Donatini and Moira Hocevar and Dmitri Tumanov and Nitika Vaish and Julien Claudon and Jean-Philippe Poizat and Pierre Verlot},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.09312},
year = {2019}
}