180°铁电畴壁处横向压电力显微镜中的剪切效应
材料科学
2010-09-03 v2
摘要
在使用压电力显微镜的研究中，我们在面外极化、c轴取向四方铁电Pb(ZrTi)O外延薄膜的180°畴壁处观察到非零的横向压电响应。我们将这些观测归因于与畴壁处压电系数符号变化相关的剪切应变效应，这与理论预测一致。我们表明，在单斜畸变四方BiFeO薄膜中，该效应叠加于由实际面内极化引起的横向压电响应之上，必须加以考虑才能正确解释铁电畴构型。
引用
@article{arxiv.0907.4570,
title = {Shear effects in lateral piezoresponse force microscopy at 180$^\circ$ ferroelectric domain walls},
author = {J. Guyonnet and H. Bea and F. Guy and S. Gariglio and S. Fusil and K. Bouzehouane and J. -M. Triscone and P. Paruch},
journal= {arXiv preprint arXiv:0907.4570},
year = {2010}
}
备注
4 pages, 3 figures