量子比特制备-测量场景中半对称信息完备测量的自测试
量子物理
2025-11-04 v5
摘要
自测试是一种用于认证量子系统的强有力方法。最初提出于设备无关（DI）设定中，自测试后来被放宽至半设备无关（semi-DI）设定。在本研究中，我们聚焦于使用半设备无关制备-测量（PM）场景，对属于单参数族的一类特定非投影量子比特测量进行自测试。值得注意的是，我们确定了迄今发现的最简 PM 场景，仅涉及四种制备与四种测量，用于对第四个测量进行自测试。该特定测量是一种四结果非投影正算子值测度（POVM），并属于 Geng 等人 [Phys. Rev. Lett. 126, 100401 (2021)] 提出的半对称信息完备（semi-SIC）POVM 类。为此，我们发展了 PM 场景中半设备无关自测试的解析技术。我们的结果将为在潜在最小 PM 场景中自测试任意极值量子比特 POVM 铺平道路。
引用
@article{arxiv.2306.07248,
title = {Self-testing of semisymmetric informationally complete measurements in a qubit prepare-and-measure scenario},
author = {Gábor Drótos and Károly F. Pál and Tamás Vértesi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2306.07248},
year = {2025}
}
备注
28 pages, 2 figures. Please note that this is currently a pre-publication version that differs from published article in a few places