金属纳米接触的扫描探针显微镜成像
介观与纳米尺度物理
2012-08-22 v1 材料科学
摘要
我们展示了在受控电迁移循环之间金属纳米接触的扫描探针显微镜测量结果。用于减薄过程的纳米线通过阴影蒸发制备。使用扫描力显微镜获得的最高分辨率约为3纳米。在最初的几个电迁移循环中，形成了纳米接触的整体狭缝结构。狭缝首先沿着晶界移动，然后在后期阶段，在消耗晶粒的过程中垂直分裂晶粒。我们发现，首先整个线被加热，然后在减薄过程中，随着狭缝的形成，电流流过几个较小的接触点，这需要更少的功率。
引用
@article{arxiv.1112.6309,
title = {Scanning probe microscopy imaging of metallic nanocontacts},
author = {D. Stöffler and S. Fostner and P. Grütter and R. Hoffmann-Vogel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1112.6309},
year = {2012}
}
备注
4 pages, 4 figures