应变的扫描电子衍射层析成像
数值分析
2021-02-03 v2 材料科学
数值分析
摘要
应变工程被用于在现代一系列技术中获取所需的材料特性。然而，由于缺乏合适的实验技术与数据分析工具，对这些材料内部三维应变张量场的直接纳米尺度测量一直受到限制。扫描电子衍射已成为获取垂直于入射电子束方向的应变分量二维图的有力工具。但将该方法推广以恢复完整的三维应变张量场，却因缺乏利用此类数据进行张量层析成像的形式化框架而受限。本文中，我们证明可将完整的非对称应变张量场重建为一个不适定张量层析逆问题的解。随后，我们从解析与计算两方面展示了该层析问题的性质，强调为何引入进动以执行扫描进动电子衍射可能十分重要。我们建立了非对称张量层析的一般框架，并通过计算证明其适用于利用扫描进动电子衍射数据实现应变层析成像。
引用
@article{arxiv.2008.03281,
title = {Scanning electron diffraction tomography of strain},
author = {Robert Tovey and Duncan N. Johnstone and Sean M. Collins and William R. B. Lionheart and Paul A. Midgley and Martin Benning and Carola-Bibiane Schönlieb},
journal= {arXiv preprint arXiv:2008.03281},
year = {2021}
}