粗糙度作为随机无序的一种度量
软凝聚态物质
2019-08-30 v1
摘要
我们使用原子力显微镜（AFM）技术研究了由气硅分散在辛基氰基联苯（8CB）液晶（LC）中产生的淬火随机无序（QRD）效应。8CB+气硅凝胶中的凝胶化过程产生了一个QRD网络，该网络也改变了表面形貌。通过增加气硅浓度，原始光滑的LC样品表面图案被抑制，产生了分形的气硅表面效应，这些表面变得更加多孔、更粗糙，并具有更多和更大的裂隙。分散的气硅也充当液晶分子的钉扎中心。已观察到，通过扩散限制聚集过程，气硅纳米粒子为无序程度较低的样品产生了类似分形的表面图案。随着气硅分散的增加，表面可以用更多聚集区域来描述，这也引入了更多的粗糙度。利用这一事实，我们证明了短程X射线峰宽（先前X射线衍射实验的结果）与计算出的表面粗糙度之间存在净相关性。换句话说，我们证明了这些QRD凝胶也可以通过其表面粗糙度值来表征。
关键词
引用
@article{arxiv.1703.06346,
title = {Roughness as a measurement of random disorder},
author = {M. Ramazanoglu and R. Salci},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.06346},
year = {2019}
}
备注
4 pages, 3 figures