共振拉曼映射作为 Si-SiO2 纳米复合材料中的界面声子探针
介观与纳米尺度物理
2015-03-13 v2 材料科学
摘要
研究表明，Si-SiO2 纳米复合材料中中频范围 (511 - 514 cm-1) 的 Si 声子对核心 (core) 和表面/界面 (surface/interface) Si 声子均有贡献，其中两者的贡献比例取决于 Si 纳米晶的尺寸。此外，激光加热实验表明，随着纳米晶尺寸的增加，核心声子的贡献也随之增加。波长依赖性拉曼映射揭示，由于共振拉曼散射 (Resonance Raman scattering)，界面声子是可观测的。这一结果与吸收光谱吻合良好。这种理解可被有效地用于操纵和表征 Si-SiO2 纳米复合材料，同时服务于光伏器件应用。
引用
@article{arxiv.1408.0924,
title = {Resonance Raman mapping as an interface phonon probe in Si-SiO2 nanocomposites},
author = {Ekta Rani and Alka Ingale and A. Chaturvedi and M. P. Joshi and L. M. Kukreja},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.0924},
year = {2015}
}