电子-正电子散射中伴随 witness 光子的正规化纠缠熵

计算了包含 witness 光子与初始电子-正电子态纠缠的散射过程 $e^-e^+ \rightarrow \gamma,Z\rightarrow \mu^-\mu^+$的正规化量子信息指标。单位arity意味着对最终密度矩阵和von Neumann纠缠熵中出现的发散进行正确的正规化。计算结果表明，纠缠熵用于量化不确定性或随机性。信息的变化、纠缠熵以及μ-μ之间以及 witness 光子自旋间的相关性被发现能够传递等价信息。μ-μ预期自旋强度随着自旋熵的下降而上升（或随着自旋熵的上升而下降）。散射截面（即面积）是μ-μ自旋熵和动量熵的熵源。μ-μ的微分角熵分布类似于微分角截面分布，捕捉了在高中心质量能量下的前后不对称性。