通过软X射线共振衍射测定钒的折射率
材料科学
2012-01-04 v1
摘要
通过测量V/Fe超晶格的一级衍射峰的角位移，确定了钒折射率的色散部分。测量使用了椭圆偏振同步辐射，在不同入射散射角下扫描通过V L2,3吸收边。该X射线散射技术提供了通过吸收共振直接测定折射率色散部分的途径。通过比较吸收校正与色散校正，显示了共振处吸收的影响。结果表明，在钒的L2,3共振处，1-δ大于1，并讨论了其光学后果。
引用
@article{arxiv.1201.0109,
title = {Refractive index of vanadium determined by resonant diffraction of soft x-rays},
author = {Martin Magnuson and Coryn F. Hague},
journal= {arXiv preprint arXiv:1201.0109},
year = {2012}
}
备注
7 pages, 3 figures, http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204804001264