硅在 Gamma 射线能量下的折射率
原子物理
2015-06-03 v2 光学
摘要
折射率 n(E_{\gamma})=1+\delta(E_{\gamma})+i\beta(E_{\gamma}) 被拆分为实部 \delta 和吸收部 \beta。吸收部对截面 \sigma_{abs} 有三项众所周知的贡献:光电效应、Compton 效应和电子对产生,但也存在非弹性 Delbrück 散射。包含 Rayleigh 散射(虚光电效应)、虚 Compton 效应和 Delbrück 散射(虚电子对产生)的二阶弹性散射截面 \sigma_{sca},可通过 Kramers-Kronig 色散关系对截面 \sigma_{abs} 的积分来计算。实弹性散射振幅与折射率 \delta_{photo}、\delta_{Compton} 和 \delta_{pair} 成正比。尽管对于 X 射线,负的 \delta_{photo} 占主导地位,但我们首次在实验和理论上证明,对于 gamma 射线,正的 \delta_{pair} 占主导地位,从而开启了 gamma 光学应用,即核光子学的新纪元。
引用
@article{arxiv.1111.3608,
title = {The Refractive Index of Silicon at Gamma Ray Energies},
author = {D. Habs and M. M Günther and M. Jentschel and W. Urban},
journal= {arXiv preprint arXiv:1111.3608},
year = {2015}
}
备注
4 pages, 3 figures