面向斯皮策联合成像光度计的降阶算法
天体物理学
2009-11-10 v1
摘要
我们描述了面向斯皮策联合成像光度计（MIPS）仪器的数据降阶算法。这些算法基于对MIPS中Si:As（24微米）和Ge:Ga（70和160微米）阵列的广泛预飞行测试与建模，并经初次飞行数据检验后不断完善。我们所描述的行为属于当代在太空低背景条件下运行的红外焦平面所常见的典型行为。由于Ge阵列为 Bulk 光电探测器，因而呈现出多种必须被校正数据以消除的各种artifact。虽然Si阵列相较于Ge阵列更为良好，但仍显示出少数必须被校正数据以消除的artifact。数据降阶为消除这些效应，分为三个部分：第一部分将非破坏性读取的数据坡度转换为斜率，同时消除具有约等于曝光时间尺度的时序artifact；第二部分对斜率测量进行校正，同时消除具有超过曝光时间尺度的时序artifact；第三部分利用MIPS观测模式中固有的冗余性，对消除效应进行迭代改进。对于每一步，我们都展示了相关实验室实验或理论论证，以及用于校正数据的数学方法。最后，我们描述了这些预飞行算法在实际飞行数据中的表现。
关键词
引用
@article{arxiv.astro-ph/0502079,
title = {Reduction Algorithms for the Multiband Imaging Photometer for Spitzer},
author = {K. D. Gordon and G. H. Rieke and C. W. Engelbracht and J. Muzerolle and J. A. Stansberry and K. A. Misselt and J. E. Morrison and J. Cadien and E. T. Young and H. Dole and D. M. Kelly and A. Alonso-Herrero and E. Egami and K. Y. L. Su and C. Papovich and P. S. Smith and D. C. Hines and M. J. Rieke and M. Blaylock and W. B. Latter and P. Perez-Gonzalez and E. LeFloc'h and J. L. Hinz and T. Hesselroth and D. T. Frayer and A. Noriega-Crespo and F. J. Masci and D. L. Padgett and M. P. Smylie and N. M. Haegel},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0502079},
year = {2009}
}
备注
21 pages, 16 figures, PASP accepted (May 2005 issue), version of paper with full resolution images is available at http://dirty.as.arizona.edu/~kgordon/papers/PS_files/mips_dra.pdf